三木科技的BIB板高低溫試驗箱專為半導體、電子元件及老化板（Burn-in Board）的高低溫老化測試而設計，精準模擬嚴苛溫度環境，確保芯片、模塊在批量生產前的可靠性與穩定性。該試驗箱提供寬廣的溫變范圍，溫度均勻性優異，支持長時間連續運行，廣泛應用于集成電路、通信模塊、車載電子等產品的老化篩選與性能評估，是提升產品良率和可靠性的關鍵測試設備。

• ?提供非標定制（如端口擴展、特殊載具），配合技術團隊全程支持，滿足車規級等嚴苛測試需求。
• ?采用大功率壓縮機組及高效制冷系統，提供快速的線性溫變速率，并能有效抵消BIB板自身發熱，實現滿負荷通電狀態下的精準恒溫。
• ?標配自動電動門，一鍵啟閉，密封性更好，提升效率并保障溫場穩定與人員安全。
• ?可依據客戶BIB板及老化架尺寸，定制加固型貨架（滑軌式），承重強，布局靈活。

大尺寸觸摸屏控制器，支持多段程序編程、USB數據存儲與導出，并可選配遠程監控及報警功能，實現無人值守管理。

BIB板（老化板）高低溫試驗箱作為電子產品質量與可靠性的關鍵驗證設備，其核心應用是對裝載在專用老化板（BIB）上的半導體器件、電子模塊進行通電狀態下的高低溫應力篩選和性能評估。主要服務于以下核心領域：

• ?半導體與集成電路行業：芯片老化篩選（Burn-in）：對CPU、GPU、存儲器（DRAM, NAND Flash）、微控制器（MCU）等芯片進行高溫、高電壓通電老化，提前剔除早期失效產品，是提升出廠良率的關鍵工序。
• ?車規級可靠性驗證：嚴格遵循AEC-Q100等標準，對發動機控制單元（ECU）、電池管理系統（BMS）、車載傳感器、IGBT模塊等進行高低溫循環、高溫反偏（HTRB）等測試，確保其在極端環境下的絕對可靠性。
• ?服務器與存儲設備驗證：測試服務器主板、存儲驅動器在長期高負載及溫度變化下的穩定性。
• ?航空航天與國防電子： 對用于衛星、航空儀表、雷達系統的電子組件進行遠超民用等級的溫度應力篩選（如-55℃至+125℃），滿足嚴苛的 MIL-STD 等標準要求。

BIB板（老化板）專用高低溫試驗箱，是電子產品質量與可靠性的驗證基石，其設計與性能嚴格遵循國際主流行業標準。無論您是進行芯片老化篩選、車規級認證，還是軍工產品測試，本設備均能提供精準、穩定、合規的測試環境，助力您的產品通過嚴苛的質量考驗。

• ?半導體/IC：JEDEC (JESD22) - 行業通用可靠性基礎；AEC-Q100 - 車規芯片強制認證。
• ?汽車電子：AEC-Q100/Q104 - 車規芯片與模組；ISO 16750 - 整車廠環境試驗通用要求。
• ?通信設備：GR-468-CORE - 光器件可靠性核心標準；
• ?軍工/航天：MIL-STD-883 / GJB 548 - 高可靠性與軍品嚴苛試驗方法。

它還符合通用基礎：IEC 60068-2 / GB/T 2423 - 高低溫環境試驗的國際與國標基礎。